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BELL LABS REQUIERE EL RENDIMIENTO DE SEMICONDUCTORES

Hola otra vez. En el teclado Simón Sánchez y hoy vamos a hablar sobre BELL LABS REQUIERE EL RENDIMIENTO DE SEMICONDUCTORES

NOTICIAS DE CIENCIA E INGENIERÍA

Murray Hill, Nueva Jersey – Científicos de Bell Labs, la rama de investigación y desarrollo de Lucent Technologies Inc., han encontrado una manera de observar el interior de un semiconductor y crear una imagen de un solo átomo de impurezas en el silicio. , un desarrollo que ayudará a los científicos a comprender cómo las impurezas afectan las propiedades de los microchips.

Esta comprensión de los semiconductores a nivel atómico es fundamental para diseñar las tecnologías de fabricación necesarias para reducir el tamaño de las generaciones futuras de productos electrónicos de alta velocidad, como los microprocesadores, en un esfuerzo por mantener la ley de Moore en marcha. La Ley de Moore, observada por el cofundador de Intel Corp. Gordon Moore en 1965, postula que el número de transistores en un semiconductor se duplica aproximadamente cada 18 meses con una reducción del 50% en el área.

Esta es la primera vez que se ha representado una impureza individual en su estado inalterado dentro de un cristal y se obtuvo utilizando un microscopio electrónico especial, dijo Bell Labs, y agregó que tal hazaña es tan difícil como ver una huella digital. en la superficie de la luna.

La investigación se describe en un artículo publicado hoy en la revista Nature.

Los hallazgos «son importantes para comprender la distribución de impurezas en el silicio a nivel atómico», escribió Paul Peercy, profesor y decano de ingeniería en la Universidad de Wisconsin en Madison. «También serán importantes para aumentar nuestra comprensión de una amplia gama de materiales complejos».

A medida que los chips se vuelven cada vez más pequeños, ahora es importante imaginar y comprender el entorno químico y físico dentro de los dispositivos, porque esas propiedades determinarán en última instancia hasta qué punto los ingenieros podrán reducir el tamaño de los transistores. y las interconexiones entre ellos en semiconductores, dijo Elsa Reichmanis, directora del departamento de investigación de materiales de Bell Labs.

Las impurezas – o «dopantes» como se les conoce – se introducen intencionalmente en el silicio para proporcionar portadores de carga que controlan las propiedades eléctricas de un chip. Pero a medida que los componentes del chip continúan encogiéndose de acuerdo con la Ley de Moore, la industria está llegando a un punto en el que solo unos pocos átomos de impurezas podrían determinar la función de un dispositivo en particular, dijo Bell Labs.

La técnica de Bell Labs, que utiliza microscopía electrónica de transmisión de barrido, permite a los científicos visualizar dopantes individuales y agrupaciones tal como existen dentro de dispositivos reales y proporcionará a los científicos una comprensión de cómo funcionan estos átomos de impurezas en el interior. de dispositivos reales, dijo Bell Labs.

Las técnicas anteriores no habían podido mirar dentro del cristal.

«Ahora podemos mirar las cosas ocultas dentro de un sólido, en su entorno natural», dijo David Muller, físico de Bell Labs. «Es cualitativamente diferente cómo ver cómo se comporta un animal en un zoológico y cómo se comporta en su hábitat natural».

La técnica de Bell Labs es extremadamente sensible y se puede aplicar a casi cualquier material, no solo a semiconductores, dijo Bell Labs.

Otros miembros del equipo de investigación fueron Paul Voyles, John Grazul y Paul Citrin de Bell Labs y Hans Gossmann de Agere Systems.

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